これまでは検査装置が検出した欠陥画像の種別を分類するのに膨大で複雑なパラメータを設定する必要がありました。苦労してパラメータを設定しても、思ったような分類結果が得られないこともあり、パラメータを設定する作業は困難な作業の一つです。また、多品種の製造ラインともなるとパラメータのメンテナンス作業、新たな欠陥の種別の発生時のパラメータの見直しも必要になります。SCANTEC Brainは、事前に分類するためのパラメータを準備して欠陥画像を分類する手法とは一線を画した機械学習アルゴリズムによる欠陥画像を自動で分類する環境を提供します。